HN300電纜故障測(cè)試儀 電力電纜故障測(cè)試儀 HN300系列 輸電線路工頻參數(shù)測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。當(dāng)被測(cè)表面粗糙度值大于Ra=0.8μm時(shí)，隨著粗糙度值的增大，被測(cè)表面對(duì)壓頭的抗力愈小，其塑性變形愈大，圓形壓痕就愈大，相應(yīng)的硬度值也就愈小，致使測(cè)量值偏低于其真實(shí)值。試驗(yàn)證明，測(cè)量偏差在10HB以上（注：用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量洛氏硬度時(shí)，粗糙度的影響較小，本文就不進(jìn)行了）。當(dāng)我們用便攜式微電腦超聲硬度計(jì)測(cè)量硬度時(shí)，粗糙度的影響較用臺(tái)式硬度計(jì)就更大了。當(dāng)被測(cè)表面粗糙度值大于Ra=0.8μm時(shí)，隨著粗糙度值的增大，硬度計(jì)的金剛石角錐體壓頭與被測(cè)表面的接觸面積就會(huì)增大。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

為**起見(jiàn)，一般我們應(yīng)當(dāng)在可燃?xì)怏w濃度在LEL的10%和20%時(shí)發(fā)出警報(bào)，這里，10%LEL稱(chēng)。作警告警報(bào)，而20%LEL稱(chēng)作危險(xiǎn)警報(bào)。這也就是我們將可燃?xì)怏w檢測(cè)儀又稱(chēng)作LEL檢測(cè)儀的原因。需要說(shuō)明的是，LEL檢測(cè)儀上顯示的不是可燃?xì)怏w的濃度達(dá)到氣體體積的，而是達(dá)到了LEL的，即相當(dāng)于可燃?xì)怏w的下限，如果是，LEL=4%體積濃度。在工作中，以LEL方式測(cè)量這些氣體的檢測(cè)儀是我們常見(jiàn)的催化燃燒式檢測(cè)儀。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。具體為：在測(cè)距精度上，從初的米級(jí)逐步提高到分米級(jí)、厘米級(jí)，目前上進(jìn)的臺(tái)站其測(cè)距精度已能達(dá)到毫米級(jí)。在測(cè)距能力上，從初的遠(yuǎn)1～2km提高到2萬(wàn)km，乃至3.6萬(wàn)km。激光測(cè)月的實(shí)現(xiàn)使測(cè)距能力達(dá)到了38萬(wàn)km。在測(cè)距頻率上，從初的每秒一次發(fā)展到目前每秒1～2次，更高頻率的激光測(cè)距（如1kHz測(cè)距）也在試驗(yàn)中。在測(cè)距波長(zhǎng)上，目前普遍采用的仍是單色測(cè)距系統(tǒng)，一些臺(tái)站也在使用雙色／多色激光測(cè)距系統(tǒng)。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線?？煽毓铏z測(cè)方案電控系統(tǒng)長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后，電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障。基于此，對(duì)可控硅性能好壞進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)于系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬(wàn)用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控硅導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中，僅采用萬(wàn)用表無(wú)法判斷可控硅的故障。下面對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比，以得出可控硅檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法（耐壓試驗(yàn)）采用大電流發(fā)生器（簡(jiǎn)稱(chēng)升流器）對(duì)可控硅K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

一個(gè)半導(dǎo)體氣體傳感器制造商采用的基于PXI的集成化測(cè)試解決方案，該方案可提供測(cè)試所需的準(zhǔn)確性，適應(yīng)非常大規(guī)模的現(xiàn)場(chǎng)計(jì)數(shù)，并且在低成本的情況下可匹配高性能半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的整體吞吐量性能。MOX氣體傳感器介紹MOX氣體傳感器是作為多芯片模塊(MCM)制作的微機(jī)電系統(tǒng)(微機(jī)電系統(tǒng))器件。MCM的基本組成部分是微控制器ASIC，在晶圓片上試，以及傳感器本身。這些組件被放置在一個(gè)共同的基板上，蓋子被放置在組件上，有一個(gè)小的孔或網(wǎng)，允許氣體進(jìn)入傳感器。