HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。在沒(méi)有火出現(xiàn)的場(chǎng)景中，紅外熱像儀將在高靈敏度模式下操作，顯示熱環(huán)境的細(xì)節(jié)。就FLIRK系列紅外熱像儀而言，高靈敏度模式能夠測(cè)量高達(dá)+15°C的溫度。如果發(fā)生火災(zāi)，熱像儀將會(huì)切換到低靈敏度模式，該模式可實(shí)現(xiàn)較低靈敏度（較少細(xì)節(jié)）和較高表面溫度監(jiān)測(cè)能力之間的平衡。就FLIRK系列紅外熱像儀而言，低靈敏度模式能夠測(cè)量高達(dá)+65°C的溫度。測(cè)量更高溫度，即超過(guò)+65°C，意味著轉(zhuǎn)換到更低靈敏度模式（所謂的增益模式），在此模式下，能測(cè)量更高溫度，但是須以犧牲圖像細(xì)節(jié)和對(duì)比度為代價(jià)，導(dǎo)致不可接受的圖像質(zhì)量損失。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

只要一個(gè)簡(jiǎn)單的內(nèi)部AND或者OR門(mén)控就足以避免使用外部組件，或是改善CPU性能。所有四種方法都支持用定制邏輯門(mén)控輸入和輸出信號(hào)。這類方法可借助時(shí)鐘門(mén)控輸入，以便使用計(jì)數(shù)器測(cè)量外部時(shí)鐘頻率。這四類邏輯模塊均支持的一個(gè)簡(jiǎn)單例子是一種調(diào)制UART輸出，使之用于IR通信的方法。在此例中，不僅有所示的內(nèi)部AND門(mén)控，還能夠?qū)?lái)自時(shí)鐘或計(jì)數(shù)器的信號(hào)及UARTTX輸出路由到AND門(mén)控。簡(jiǎn)單調(diào)制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA定制邏輯（XCL）AtmelXCL模塊內(nèi)置兩個(gè)LUT（查找表）模塊，配套兩個(gè)8位定時(shí)器/計(jì)數(shù)器模塊。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修漏泄電纜的設(shè)計(jì)目的則是特意減小橫向，使得電磁能量可以部分地從電纜內(nèi)穿透到電纜外。當(dāng)然，電纜外的電磁能量也將感應(yīng)到電纜內(nèi)。泄露電纜主要適用于銀行、金庫(kù)、住宅、監(jiān)獄、倉(cāng)庫(kù)、博物館、電站（包括核電站）、**機(jī)關(guān)及設(shè)施、基地、油田、保護(hù)和其它需要室外周邊防護(hù)的報(bào)警場(chǎng)所，也可作為室內(nèi)防護(hù)報(bào)警使用。傳輸損耗測(cè)試方法介于泄露同軸電纜的性，它比普通的同軸電纜的損耗更加大，對(duì)長(zhǎng)線纜的測(cè)試帶來(lái)的更多的挑戰(zhàn)？普通的天饋線測(cè)試儀將不一定能滿足那么大的動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試應(yīng)用。