HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 地鐵直流大電流電源HNDL 斷路器溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修
利用計算機控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，并自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。電磁干擾的三要素是干擾源、干擾傳輸途徑、干擾接收器。EMC就圍繞這些問題進行研究?；镜母蓴_技術(shù)是、濾波、接地。它們主要用來切斷干擾的傳輸途徑。廣義的電磁兼容控制技術(shù)包括干擾源的發(fā)射和提高干擾接收器的敏感度，但已延伸到其他學科領(lǐng)域。本規(guī)范重點在單板的EMC設(shè)計上，附帶一些必須的EMC知識及法則。在印制電路板設(shè)計階段對電磁兼容考慮將減少電路在樣機中發(fā)生電磁干擾。問題的種類包括公共阻抗耦合、串擾、高頻載流導線產(chǎn)生的輻射和通過由互連布線和印制線形成的回路拾取噪聲等。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。但在CAN總線的工業(yè)自動化應(yīng)用中，由于設(shè)備的互通互聯(lián)的需求越來越多，所以需要一個開放的、標準化的高層協(xié)議：這個協(xié)議支持CAN廠商設(shè)備的互用性、互換性，能夠?qū)崿F(xiàn)在CAN網(wǎng)絡(luò)中提供標準的、統(tǒng)一的系統(tǒng)通訊模式，提供設(shè)備功能描述方式，執(zhí)行網(wǎng)絡(luò)管理功能。其中包括：l應(yīng)用層(Applicationlayer)：為網(wǎng)絡(luò)中每一個有效設(shè)備都能夠提供一組有用的服務(wù)與協(xié)議。l通訊描述(Communicationprofile)：提供配置設(shè)備、通訊數(shù)據(jù)的含義，定義數(shù)據(jù)通訊方式。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，并能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。在測試電子器件時，很難不提到示波器所具有的通用性。為了對電子電路進行驗證，工程師需要能夠查看和測量其設(shè)計中的信號。自動測試設(shè)備（ATE）通常不提供大量可視化故障診斷，這對于必須安裝、校準并對系統(tǒng)進行故障診斷的用戶來說是一大挑戰(zhàn)。這些操作需要可視化工具，示波器便能提供這種工具。沒有其他設(shè)備能比示波器提供更多種測量工具。為了在ATE環(huán)境中實現(xiàn)示波器功能，用戶通常在數(shù)字化儀中使用SFP（軟件前面板）示波器軟件。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特別是2號柜的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）后說到的頻譜儀通常用在射頻領(lǐng)域，來觀察和被測信號的頻域特性，而我們常用其配合近場來掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對應(yīng)的頻點，初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計，配合無源電壓點測芯片的時鐘輸入引腳，就可以測量到頻率，如下是各部分的電路結(jié)構(gòu)：其中：CC2是晶體的負載電容，影響到頻率、負性阻抗等電路參數(shù)RC3是無源電壓的電路參數(shù)，R3是9Mohm，C3是幾個pF不等R是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，是幾十pF不等如果使用頻譜儀，配合近場靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率，這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。