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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據(jù)相關(guān)的國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀
詳情介紹:

HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀產(chǎn)品簡介:

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗中。

長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀3672系列功能選件-矢量混頻/變頻器件測量應(yīng)用軟件的操作步驟說明:矢量混頻/變頻器件測試軟件是3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)儀測試功能選件之一,集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率(正向及反向)、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試軟件。其主要特點包括:1.測量過程需使用一個參考混頻器進行表征。測試參數(shù),相比于標(biāo)量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。充分利用內(nèi)置雙激勵源配置,一個用于提供射頻測量激勵信號,另一個則被用于提供本振信號,無需額外信號源提供本振信號,節(jié)約了測試成本,同時,避免了不同儀器之間的同步配置。


沖擊測試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗。此種測試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped 的閃電突波L.I


德圖儀器食品**快速檢測解決方案—輕松實現(xiàn)合規(guī),質(zhì)量顯著提高“民以食為天”,在餐飲連鎖領(lǐng)域中,準(zhǔn)確的測量和控制溫度是保證食品的質(zhì)量和衛(wèi)生**的關(guān)鍵所在。在嚴(yán)“食品**法”和HACCP法規(guī)對食品加工和餐飲服務(wù)的潛在沖擊和要求下,許多餐飲在尋找高性價比的解決方案來應(yīng)對。德圖儀器在多年聽取行業(yè)內(nèi)專家和餐飲的建議下,推出一套完整的包括儀器和不同應(yīng)用的解決方案來解決專業(yè)的質(zhì)量合規(guī)和食品**問題。長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀
HN
CJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間,能夠手動或者自動控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控制方式充電時,根據(jù)設(shè)定值,自動充電并穩(wěn)定在充電電壓值上,延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動作控制

本體球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動/自動控制。

觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時


在帶寬500MHz以下的示波器,一般標(biāo)配是1倍衰減或10倍衰減的無源,某些的衰減比可手動選擇。不同衰減比的在帶寬、輸入電阻、輸入電容上面都有差異:圖2ZP1025SA1倍、10倍衰減時的參數(shù)差異可見的輸入電容,比晶體手冊的負載電容要大。的介入,必定大大影響到原已參數(shù)優(yōu)化好的電路,從而嚴(yán)重影響晶體電路的起振。兩害相權(quán)取其輕,測量無源晶振時應(yīng)優(yōu)先選用10倍衰減。若10倍衰減的寄生參數(shù)還是過大,可以考慮選用有源高壓差分,其負載參數(shù)優(yōu)化得非常小,如Lecroy的ZP1000,輸入阻抗可達0.9p1M歐姆。長期供應(yīng) 雷電沖擊發(fā)生器 交流耐壓試驗裝置 交流耐壓測試儀

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